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真理光學(xué)儀器有限公司專注于高端顆粒表征儀器的研發(fā)和制造，產(chǎn)品涵蓋激光（衍射法）粒度分析儀、動態(tài)光散射納米粒度及Zeta電位分析儀以及顆粒圖像分析儀，既有實(shí)驗(yàn)室儀器，又有在線檢測系統(tǒng)。真理光學(xué)秉持“科學(xué)態(tài)度，工匠精神”，為用戶提供世界先進(jìn)的高端產(chǎn)品和服務(wù)。
真理光學(xué)匯集了以張福根博士為代表的全國顆粒表征領(lǐng)域的頂尖人才。張福根博士現(xiàn)任本公司董事長兼首席科學(xué)家，還擔(dān)任全國顆粒表征及分檢與篩網(wǎng)標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會副主任委員、天津大學(xué)兼職教授，曾擔(dān)任中國顆粒學(xué)會副理事長，同時也是“歐美克”字號公司的創(chuàng)始人。曾擔(dān)任英國某粒度儀器公司中國總經(jīng)理20余年的秦和義先生擔(dān)任本公司商務(wù)總經(jīng)理，中國顆粒學(xué)會青年理事潘林超博士、陳進(jìn)博士擔(dān)綱公司的研發(fā)主力。
激光（衍射法）粒度儀雖然已得到廣泛應(yīng)用，但它并不完美，不論是科學(xué)基礎(chǔ)方面，還是技術(shù)方案方面。真理光學(xué)的團(tuán)隊針對當(dāng)前市面上儀器存在的不足，展開了系統(tǒng)的理論研究和技術(shù)創(chuàng)新，發(fā)現(xiàn)了衍射光斑（愛里斑）的反常變化現(xiàn)象（ACAD），解釋了為什么不能測量3μm左右的聚苯乙烯微球，并給出了反常區(qū)（不能測量粒徑）的一般公式；研究了衍射儀器的測量上限和下限；研究了顆粒折射率偏差對測量結(jié)果的影響，發(fā)明了兩種根據(jù)散射光分布估算顆粒折射率的方法;提出了斜置梯形窗口技術(shù)方案（專利），解決了前向超大角測量盲區(qū)的問題，使衍射儀器的亞微米顆粒測量水平顯著提高;提出了統(tǒng)一的反演算法（專有技術(shù)），消除了不同計算模式給出不同結(jié)果的尷尬；設(shè)計出了高達(dá)20Kfps的超高速并行數(shù)據(jù)采樣電路，使干法測量的精度不亞于濕法測量，對高速噴霧場的測量（時間）分辨率也更高。
在納米粒度及Zeta電位儀方面，真理光學(xué)提出了比相位分析法（PALS）更先進(jìn)的余弦擬合相位分析法（CF-PALS），用光纖分束取代了傳統(tǒng)的平板分束鏡分束，用光纖內(nèi)光干涉取代了自由空間干涉，使Zeta電位的測量重復(fù)性大幅度提高。
2025年全國顆粒測試學(xué)術(shù)會議今天在嶺南文化重鎮(zhèn)——佛山開幕。本次年會將以“創(chuàng)新測試技術(shù)，驅(qū)動顆粒未來”為主題，設(shè)立特邀報告、專題研討、青年論壇、儀器展示及企業(yè)交流等多形式環(huán)節(jié)，深入探討顆粒測試前沿技術(shù)、標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)展、跨領(lǐng)域應(yīng)用。
真理光學(xué)閃耀2025全國精密研磨拋光技術(shù)論壇，推廣納米粒度檢測技術(shù)，助力產(chǎn)業(yè)升級
真理光學(xué)梯形專利技術(shù)解決亞微米測量盲區(qū)痛點(diǎn)，為砂磨制程提供數(shù)據(jù)支撐，提升陶瓷致密性與成品良率
第37屆"2025國際橡塑展"將于2025年4月15-18日在深圳國際會展中心（寶安）舉行，當(dāng)下正處于以AI大模型及人形機(jī)器人規(guī)模應(yīng)用，機(jī)器學(xué)習(xí)、視覺檢測、協(xié)作機(jī)器人等技術(shù)為核心的工業(yè)4.0加速階段落地，Chinaplas橡塑展位作為每年橡塑工業(yè)的方向標(biāo)，你一定不能錯過
中國先進(jìn)陶瓷材料、磁性材料及粉末冶金領(lǐng)域盛會--2025第十七屆中國國際先進(jìn)陶瓷展覽會將于下周一在上海世博會展覽館H2館盛大開幕！作為中國高端激光粒度分析儀器的領(lǐng)軍企業(yè)，珠海真理光學(xué)儀器有限公司將再次盛裝參展，攜多款創(chuàng)新產(chǎn)品亮相，助力高端制造領(lǐng)域的快速發(fā)展！
在材料檢測、環(huán)境監(jiān)測、化工生產(chǎn)等多個領(lǐng)域，顆粒分析儀是實(shí)現(xiàn)顆粒尺寸、分布等參數(shù)精準(zhǔn)檢測的核心設(shè)備，其運(yùn)行穩(wěn)定性與檢測準(zhǔn)確性直接關(guān)系到實(shí)驗(yàn)結(jié)果與生產(chǎn)質(zhì)量
納米激光粒度儀是實(shí)驗(yàn)室用于分析納米級顆粒粒徑分布的專用儀器，廣泛應(yīng)用于材料、化工、生物、醫(yī)藥等多個領(lǐng)域，其使用效率直接影響實(shí)驗(yàn)進(jìn)度與數(shù)據(jù)質(zhì)量
選擇適配實(shí)驗(yàn)需求的Zeta電位分析儀，直接決定數(shù)據(jù)準(zhǔn)確性、實(shí)驗(yàn)效率與研究價值，需從樣品特性、測量原理、儀器性能、應(yīng)用場景等多維度綜合評估。
納米粒度儀是表征顆粒與膠體體系粒徑分布的關(guān)鍵工具，廣泛應(yīng)用于材料科學(xué)、生物醫(yī)藥、化工等領(lǐng)域，其測量結(jié)果的準(zhǔn)確性直接影響著產(chǎn)品質(zhì)量控制、工藝優(yōu)化與基礎(chǔ)研究結(jié)論的可信度
粒度測定儀是通過測量粉末、懸浮液或乳液中顆粒尺寸分布來評估物料物理特性的分析設(shè)備，其在化工生產(chǎn)中的關(guān)鍵應(yīng)用，核心在于將顆粒體系的微觀尺寸特征轉(zhuǎn)化為可量化、可監(jiān)控的工藝參數(shù)與質(zhì)量指標(biāo)
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